ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Обработка нанопроволок ZnO фокусированным ионным пучком в сканирующем электронном микроскопе

Шмавонян, Г. Ш. (2008) Обработка нанопроволок ZnO фокусированным ионным пучком в сканирующем электронном микроскопе. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր. Ֆիզիկա, 43 (2). pp. 135-142. ISSN 0002-3035

[img]
Preview
PDF
Download (1016Kb) | Preview

    Abstract

    Исследованы нанопроволоки ZnO на Si подложке, выращенные методом паровой фазовой эпитаксии. Տեսածրող էլեկտրոնային մանրադիտակով ուսումնասիրված են Sii-ի հարթակի վրա գոլորշու փուլային էպիտաքսիայի եղանակով աճեցված ZnO նանոլարերը: We investigated vapor phase epitaxy-grown ZnO nanowires on a Si substrate by scanning electron microscopy.

    Item Type: Article
    Additional Information: ZnO Նանոլարերի մշակումը ֆոկուսացված իոնային փնջերի միջոցով տեսածրող էլեկտրոնային մանրադիտակում։ Focused ion beam treatment of ZnO nanowires in the scanning electron microscope.
    Uncontrolled Keywords: Շմավոնյան Գ. Շ., Shmavonyan G. Sh.
    Subjects: Q Science > QC Physics > Nuclear Physics
    Divisions: UNSPECIFIED
    Depositing User: Professor Vladimir Aroutiounian
    Date Deposited: 31 May 2012 14:56
    Last Modified: 02 Apr 2014 16:40
    URI: http://physics.asj-oa.am/id/eprint/753

    Actions (login required)

    View Item