ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Рентгенографический способ определения толщины приповерхностных деформированных слоев монокристаллов

Абоян, А. О. and Тумасян, А. С. (2000) Рентгенографический способ определения толщины приповерхностных деформированных слоев монокристаллов. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր. Ֆիզիկա, 35 (2). pp. 100-105. ISSN 0002-3035

[img]
Preview
PDF
Download (789Kb) | Preview
    Item Type: Article
    Additional Information: Միաբյուրեղների մերձմակերևութային դեֆորմացված շերտերի հաստության որոշման ռենտգենագրական եղանակ; X-ray graphic method for determination of thickness of subsurface deformed layers in single crystals
    Uncontrolled Keywords: Աբոյան Ա. Հ., Թումասյան Ա. Ս., Aboyan A. O., Tumasyan A. A.
    Subjects: Q Science > QC Physics > Electricity and magnetism
    Divisions: UNSPECIFIED
    Depositing User: Professor Vladimir Aroutiounian
    Date Deposited: 18 May 2012 11:13
    Last Modified: 09 Oct 2019 20:39
    URI: http://physics.asj-oa.am/id/eprint/689

    Actions (login required)

    View Item