ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Устройство к электронному микроскопу типа УЭМВ-100 для исследования тонких ферромагнитных пленок при одноосном растягивающем напряжении

Погосян, Я. М. (1972) Устройство к электронному микроскопу типа УЭМВ-100 для исследования тонких ферромагнитных пленок при одноосном растягивающем напряжении. ՀՍՍՀ ԳԱ Տեղեկագիր. Ֆիզիկա, 7 (6). pp. 477-479.

[img]
Preview
PDF
Download (480Kb) | Preview
    Item Type: Article
    Additional Information: УЭМВ-100 K տիպի էլեկտրոնային միկրոսկոպի համասարք բարակ ֆերոմագնիսական թաղանթները միառանցքանի լարումների տակ հետազոտելու համար։ An attachment to УЭМВ-100K type electron microscope for the investigation of thin ferromagnetic films under uniaxial strains.
    Uncontrolled Keywords: Պողոսյան Յա. Մ., Pogossian Ya. M.
    Subjects: Q Science > QC Physics > Descriptive and experimental mechanics
    Q Science > QC Physics > Magnetism
    Divisions: UNSPECIFIED
    Depositing User: Professor Vladimir Aroutiounian
    Date Deposited: 13 Aug 2013 11:53
    Last Modified: 21 Aug 2013 12:38
    URI: http://physics.asj-oa.am/id/eprint/3258

    Actions (login required)

    View Item